12.23.20 -- Measuring Wide Divergent Beams | Raman Spectroscopy + a BI sCMOS Camera

12.23.20 -- Measuring Wide Divergent Beams | Raman Spectroscopy + a BI sCMOS Camera
 
Article
|
By Altaf Ramji, PCO-TECH, Inc. and Evan Eshelman, Impossible Sensing
Operating in a climate-controlled lab or on the Martian surface, back-illuminated sCMOS detectors provide high sensitivity, high dynamic range, and low noise, even in low-light conditions.
Application Note
|
By Yoni Groisman, Karol Sanilevitch, Roei Yiftah, Dr. Simon Rankel,
Ophir Photonics
Wide, divergent beams place specific requirements on a measurement system. The apertures of conventional beam profilers are too small to collect the entire spot of large or divergent light sources, while diverging beams cannot be accurately measured with regular detectors. 

Related Keywords

Italy ,United States ,Italian ,Xiaolun Zeng ,Michelle Derouin ,Alannah Johansen ,Optics Inc ,Research Science ,Alluxa Inc ,Article Laser Components United States Inc ,Systems Inc ,Application Note ,Laser Components United States ,Iridian Spectral ,Gentec Electro Optics ,இத்தாலி ,ஒன்றுபட்டது மாநிலங்களில் ,இத்தாலிய ,மைக்கேல் தேரோவின் ,அலன்னா ஜோஹன்சன் ,ஒளியியல் இன்க் ,ஆராய்ச்சி அறிவியல் ,கட்டுரை லேசர் கூறுகள் ஒன்றுபட்டது மாநிலங்களில் இன்க் ,அமைப்புகள் இன்க் ,விண்ணப்பம் குறிப்பு ,லேசர் கூறுகள் ஒன்றுபட்டது மாநிலங்களில் ,