JEDEC publishes New Test Method to evaluate power GaN devices

JEDEC publishes New Test Method to evaluate power GaN devices
JEDEC Solid State Technology Association announces the publication of JEP182: Test Method for Continuous-Switching Evaluation of Gallium Nitride Power Conversion Devices. Developed by JEDEC’s JC-70 Committee for Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductors, JEP182 is available for free download from the JEDEC website.
To enable the successful adoption of GaN power transistors, both reliable operation in power conversion applications and switching lifetime need to be demonstrated. JEP182, along with guidelines previously published by JC-70, helps address that need by expanding the ecosystem of JEDEC guidelines for reliability evaluation, test, and characterization of GaN power transistors under continuous switching conditions in power conversion applications.

Related Keywords

Texas ,United States ,Stephanie Watts Butler ,Texas Instruments ,Solid State Technology Association ,New Test Method ,State Technology Association ,Test Method ,Continuous Switching Evaluation ,Gallium Nitride Power Conversion ,Safe Operating Area ,Middle East ,Ejedec ,Power Gan ,டெக்சாஸ் ,ஒன்றுபட்டது மாநிலங்களில் ,மாற்றாந்தாய் வாட்ஸ் பட்லர் ,டெக்சாஸ் கருவிகள் ,திட நிலை தொழில்நுட்பம் சங்கம் ,புதியது சோதனை முறை ,நிலை தொழில்நுட்பம் சங்கம் ,சோதனை முறை ,தொடர்ச்சியான மாறுதல் மதிப்பீடு ,பாதுகாப்பானது இயங்குகிறது பரப்பளவு ,நடுத்தர கிழக்கு ,பவர் கண் ,